分享:熔融制樣-單波長激發能量色散X射線熒光光譜法測定鐵礦石中主、次量成分
摘 要:將經1000℃灼燒恒重后的樣品0.6000g、四硼酸鋰G偏硼酸鋰混合熔劑6.0000g和碘 化銨0.5000g置于鉑G金坩堝中,混勻后在1150 ℃的自動熔融爐中熔融30min,待冷卻后取出脫 模,制備成玻璃樣片,采用單波長激發能量色散 X 射線熒光光譜法測定其中主、次量成分,能有效 解決能譜對輕元素的激發效率低和樣品散射的連續譜背景過高問題,從而實現對微量輕元素的測 定.以理論α 影響系數法對基體效應進行校正,建立了各成分的工作曲線.利用鐵礦石標準物質 或有證化學分析標準樣品中低含量成分的3.14倍標準偏差(s)計算檢出限(3.14s),SiO2、Al2O3、 P、CaO、MgO、Mn的檢出限依次為0.022%,0.024%,0.0050%,0.0044%,0.0062%和0.0065%. 對不同鐵礦石樣品測定12次,高于檢出限的成分測定值的相對標準偏差均小于8.0%.采用不同 方法進行比對試驗,除質量分數在0.10%以下的 MgO 之外,本方法測定其他成分所得結果與對比 方法的測定結果吻合.
關鍵詞:單波長激發;能量色散;X射線熒光光譜法;鐵礦石;成分
中圖分類號:O657.34 文獻標志碼:A 文章編號:1001G4020(2022)09G0993G05
目前 X 射線熒光光譜法已經被廣泛運用于礦 產品檢測中.X 射線熒光光譜法分為波長色散 X 射線熒光光譜法和能量色散 X 射 線 熒 光 光 譜 法. 在檢測礦產品中的中、輕元素時,波長色散 X 射線 熒光光譜法的分辨率等因素優于能量色散 X 射線 熒光光譜法,其主要在于波長色散 X 射線熒光光譜 儀中的分光晶體可以獲取與每個化學元素對應的單 色 X射線熒光,分光晶體將元素特征譜線的波長轉 化為衍射角度θ,通過測量θ 來計算所測元素波長, 尤其是對輕元素檢測,能夠有效減少譜線重疊及背 景噪聲過高的問題,是礦產品中測定元素的首選方 法.但是能量色散 X 射線熒光光譜儀沒有將 X 光 分散的元件[1],只用傳感器檢測不同 X 射線熒光光 子的能量信號值,造成背景較高且出現譜線重疊. 因此,能量色散 X射線熒光光譜儀的分辨率遠遠不 如波長色散 X 射線熒光光譜儀的水平,尤其針對 收稿日期:2021G09G07 基金項目:國家重點研發計劃項目(2017YFF0108905);海關總 署科技項目(2021HK218) 作者簡介:楊金坤,工程師,主要從事礦產品及金屬材料分析 工作,tjyangjinkun@163.com 中、輕元素檢測,當含量較低時較難測定準確.
單波長激發能量色散 X 射線熒光光譜法與以 往能量色散 X射線熒光光譜法不同,它添加了獨特 的全聚焦型雙曲面彎晶結構,能夠對微焦斑 X 射線 管出射的 X 射線進行布拉格衍射單色化并聚焦到 直徑數十到數百微米的聚焦面,對樣品中的元素進 行單波長激發,從而有效解決了能譜對輕元素的激 發效率低和樣品散射的連續譜背景過高問題.由于 不再有連續譜入射到樣品上,被測元素特征線理論 上不存在連續的散射背景,具有極佳的峰背比、極低 的檢出限,可以對微量輕元素進行定量檢測.單波 長激發能量色散 X射線熒光光譜法具有功率低、無 需冷卻水、光管壽命長等優點,且單波長激發能譜與 波譜相比,前者價格便宜、操作簡單,更加易于維護. 經查閱相關文獻[2G5],未見有關單波長激發能量色 散 X射線熒光光譜法測定礦產品的報道.
本工作經熔融制備玻璃樣片,利用單波長聚焦 激發,確定儀器工作條件,提出了單波長激發能量色 散 X射線熒光光譜法測定鐵礦石中主、次量成分的 方法.
1 試驗部分
1.1 儀器與試劑
MERAKGCEMII型單波長激發能量色散 X 射 線熒光光譜儀;M4型自動熔樣爐;TGA801型熱重 分析儀;鉑G金坩堝[95%(質量分數)鉑+5%(質量 分數)金].
四硼酸鋰G偏硼酸鋰混合熔劑:四硼酸鋰與偏硼 酸鋰的質量比為35∶65,在600 ℃下灼燒4h.
四硼酸鋰、偏硼酸鋰為高純試劑;碘化銨為優 級純.
鐵礦 石 標 準 物 質 及 有 證 化 學 分 析 標 準 樣 品 (93G36,93G37,93G39)中 主、次 量 成 分 的 認 定 值 見 表1.
1.2 儀器工作條件
雙曲面彎晶 Ge111;硅漂移探測器;最高計數率 1000kcps;管電壓45kV;管電流1000μA;測量時 間(200×2)s.
1.3 試驗方法
1.3.1 灼燒減量的測定
稱取約1.2g標準樣品(或標準物質)及待測樣 品分別置于熱重分析儀中,升溫至1000 ℃,至少保 持20min,直至樣品質量恒重.重復測定2次,計 算其灼燒減量(即灼燒減少的質量與樣品質量的比 值).
1.3.2 玻璃樣片的制備
向鉑G金坩堝中依次稱取經1000 ℃灼燒恒重 后的樣品0.6000g、四硼酸鋰G偏硼酸鋰混合熔劑 6.0000g和碘化銨0.5000g,混勻后在1150 ℃的 自動熔融爐中熔融30 min,待冷卻后取出脫模,制 備成玻璃樣片.
1.3.3 工作曲線的建立
按照1.3.2節制備樣片過程將標準樣品或標準 物質系列熔制成玻璃樣片,并在儀器工作條件下測 量譜線,標峰,加亮;然后分別進行信號強度及含量 計算,得到初始曲線方程;最后進行基體效應校正并 建立工作曲線.其中基體效應采用理論α 影響系數 法進行數學校正[1,4],校正公式如公式(1)所示.
式中:a 及b 分別為初始曲線方程的斜率及截距;Iij 為待測成分強度與乘以譜線重疊校正系數后的重疊 峰強度的和;αij為影響成分j 對待測成分i 的理論 影響系數;wj 為影響成分j 的質量分數,%;wi 為待測成分i的質量分數,%.
1.3.4 元素的測定
將玻璃樣片置于單波長激發能量色散 X 射線 熒光光譜儀中測定.將各成分的檢測值進行灼燒減 量的修正后,得到最終成分含量,如公式(2)所示.
式中:w1 為儀器測定值,%;wLOI為灼燒減 量,%; w2 為待測成分的質量分數,%.待測樣品進行兩次 平行測定.
2 結果與討論
2.1 輕元素檢測效果
基于全聚焦型雙曲面彎晶結構的優勢,利用單 波長激發,剝離了連續譜產生的噪聲,從而提高了信 噪比,具有極低的檢出限,可以對含量低的輕元素進 行測定.對鐵礦標準物質 GSB03G2027-2006、YSG BC13710-95及有證化學分析標準樣品93G37進 行掃描,針對傳統能譜難以準確分析含量較低的輕 元素的問題,峰圖分析時截取代表元素的特征譜圖 進行放大說明,結果見圖1.
圖1(a)中 GSB03G2027-2006為高鎂、低硅、 低鋁含量的鐵礦石標準物質,鋁元素 Kα 線未受到 鎂元素峰的影響,基線背景較低,鋁及硅元素完全能 夠被分離檢測,不受干擾;圖1(b)則針對有證化學 分析標準樣品93G37中低磷及低鈣元素的峰進行分 析 ,結果顯示信噪比較高,扣除背景后峰信號明顯;
圖1(c)的鐵礦石標準物質 GSB03G2038-2006中 低含量鎂峰及鋁峰接近高硅峰,但未受到高含量硅 峰的影響.由此可見,針對輕元素,利用單波長激 發,可降低噪聲,明顯提高檢測效果.
2.2 檢測范圍與檢出限
根據建立的工作曲線確定方法檢測范圍,結果 大于0.10% 的 數 據 保 留 小 數 點 后 兩 位,結 果 小 于 0.10%的數據保留兩位有效數字,見表2.
檢出限可判斷樣品測定結果的可靠性及單波長 激發的靈敏度.選取建立工作曲線中各待測成分含 量最低的鐵礦石標準物質或有證化學分析標準樣 品[6],采用試驗方法重復測定7次,以3.14倍測定 值的標 準 偏 差 (s)計 算 檢 出 限 (3.14s)[7],結 果 見 表2.全鐵為主量成分,其檢出限不作討論.
2.3 精密度試驗
選取不同國家樣品進行精密度試驗,按照試驗 方法對每個樣品測定12次,計算測定值的相對標準 偏差(RSD),結果見表3. 表2 檢測范圍與檢出限 Tab.2 Detectionrangesanddetectionlimits 待測成分 檢測范圍 w/ % 檢出限 w/ % TFe 30.34~72.01 - MgO 0.027~3.84 0.0062 Al2O3 0.069~5.54 0.024 CaO 0.011~11.95 0.0044 SiO2 0.16~48.27 0.022 P 0.011~0.58 0.0050 Mn 0.020~1.87 0.0065 結果表明,單波長激發能量色散 X 射線熒光光 譜法檢測鐵礦中主、次量成分,除部分樣品中磷及氧 化鎂測定值的 RSD 在 5% 以上外,其他結 果 均 良 好.印 度 鐵 礦 中 磷 元 素 含 量 較 低,測 定 值 為 0.0040%,巴 西 鐵 礦 中 氧 化 鎂 的 測 定 值 為 0.0060%,已低于檢出限,這是造成 RSD 較高的主 要原因.
2.4 方法比對
選取上述不同國家樣品10個,按試驗方法進行 測定,并與滴定法[8](測定全鐵)和波長色散 X 射線 熒光光譜法[9](測定除全鐵外的其他成分)進行結果 比對,見表4.
結果表明,除質量分數在0.10%以下的氧化鎂之外,本方法測定其他成分所得結果與對比方法的 測定結果吻合,說明方法的準確度較高.
本工作采用熔融制樣G單波長激發能量色散 X 射線熒光光譜法測定鐵礦石中主、次量成分,并以現 有的鐵礦石標準物質或有證化學分析標準樣品建立 工作曲線,利用理論α 影響系數法校正目標成分的 基體效應,定量分析樣品中相關成分.通過精密度 試驗和方法比對驗證可知,方法滿足定量分析要求.
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